一、維修前準(zhǔn)備：環(huán)境與工具適配

紅外光譜系統(tǒng)的光學(xué) / 探測(cè)組件對(duì)濕度、粉塵、靜電極度敏感，維修前需滿足基礎(chǔ)環(huán)境要求，避免二次損壞：

環(huán)境控制

維修空間濕度≤40%（建議開啟除濕機(jī)），溫度 20-25℃，無明顯粉塵（優(yōu)先在潔凈工作臺(tái)內(nèi)操作）；

提前關(guān)閉設(shè)備總電源，拔掉電源線，等待 30 分鐘以上釋放電容殘留電荷。

二、分組件維修流程

1. 干燥分子篩：失效更換（核心前置步驟）

干燥分子篩的作用是吸附系統(tǒng)內(nèi)濕氣，其失效是導(dǎo)致窗片、探測(cè)器潮解的根本原因，需優(yōu)先更換，避免維修后新組件再次受潮：

拆卸步驟

打開設(shè)備側(cè)面板（用防靜電螺絲刀擰下固定螺絲，注意面板內(nèi)側(cè)線路，避免拉扯）；

定位分子篩倉(cāng)（通常為圓柱形 / 方形透明 / 金屬腔體，標(biāo)注 “Desiccant” 標(biāo)識(shí)），擰下倉(cāng)體兩端的密封蓋（部分需用鑷子輔助拆卸卡扣）；

倒出失效的分子篩（失效特征：顏色由藍(lán)色變?yōu)榉凵?/ 白色，顆粒結(jié)塊），用氮?dú)獯祲m槍清理倉(cāng)體內(nèi)殘留粉塵（禁止用水或酒精清洗倉(cāng)體）。

更換與安裝

裝入新的 3A/4A 分子篩（填充量為倉(cāng)體容積的 80%，避免過滿導(dǎo)致氣流堵塞）；

重新安裝密封蓋，確保密封膠圈無變形（若膠圈老化，需同步更換），擰緊時(shí)力度適中，防止倉(cāng)體開裂。

2. 窗片：潮解清潔 / 更換（光學(xué)通路關(guān)鍵組件）

窗片（通常為石英材質(zhì)）潮解會(huì)導(dǎo)致紅外光透過率下降，表現(xiàn)為分析結(jié)果信噪比低、峰形異常，需根據(jù)潮解程度處理：

情況 1：輕微潮解（表面無裂紋，僅附著水霧 / 污漬）

拆卸窗片：定位窗片安裝位（多在樣品室與光學(xué)系統(tǒng)連接處，或探測(cè)器前端），用防靜電鑷子取下固定壓環(huán)，小心取出窗片（避免手指直接接觸光學(xué)面）；

清潔操作：用光學(xué)專用無塵布蘸取少量無水乙醇，沿同一方向輕輕擦拭窗片兩面（禁止來回擦拭，防止劃傷），擦拭后用氮?dú)獯祲m槍吹干殘留乙醇，放置在干燥皿中備用；

reinstall：確認(rèn)窗片無污漬后，按原方向裝入安裝位，壓緊壓環(huán)（力度均勻，防止窗片傾斜導(dǎo)致光路偏移）。

情況 2：嚴(yán)重潮解（表面有裂紋、霧狀層無法清潔）直接更換原裝窗片：需確保新窗片的尺寸、厚度與原裝一致（參考設(shè)備說明書參數(shù)），安裝后檢查密封是否良好，避免濕氣再次滲入。

3. 紅外探測(cè)器：潮解維修 / 更換（核心信號(hào)轉(zhuǎn)換組件）

紅外探測(cè)器（如 InSb 探測(cè)器）潮解會(huì)導(dǎo)致信號(hào)無響應(yīng)或漂移，屬于精密電子組件，維修需格外謹(jǐn)慎：

初步判斷更換分子篩和窗片后，若設(shè)備仍提示 “探測(cè)器信號(hào)異?！薄盎€不穩(wěn)定”，可通過設(shè)備自帶的 “探測(cè)器自檢” 功能（參考說明書操作）確認(rèn)是否為探測(cè)器潮解。

維修 / 更換操作

拆卸探測(cè)器：關(guān)閉設(shè)備電源并拔掉電源線，打開設(shè)備頂部或后部的光學(xué)倉(cāng)蓋板（注意標(biāo)記線纜連接順序，避免重裝時(shí)接錯(cuò)），用防靜電螺絲刀擰下探測(cè)器固定螺絲，拔下連接線纜（需捏住插頭根部，禁止拉扯線纜）；

檢查與處理：若探測(cè)器外殼無破損，僅內(nèi)部輕微受潮，可將其放入恒溫干燥箱（溫度 40-50℃，濕度≤10%）干燥 2-4 小時(shí)（需確認(rèn)探測(cè)器耐受溫度，避免高溫?fù)p壞）；若探測(cè)器已完全失效（自檢無信號(hào)），需更換同型號(hào)原裝探測(cè)器（禁止使用非兼容型號(hào)，否則會(huì)導(dǎo)致光路匹配異常）；

重裝與防靜電保護(hù)：安裝新探測(cè)器時(shí)，務(wù)必佩戴防靜電手環(huán)，按原線纜順序連接插頭，擰緊固定螺絲（力度適中，防止探測(cè)器底座變形），蓋好光學(xué)倉(cāng)蓋板前，檢查周圍無粉塵、線纜無擠壓。

三、維修后校驗(yàn)與測(cè)試

組件更換完成后，需通過以下步驟確認(rèn)維修效果，確保設(shè)備恢復(fù)正常功能：

密封性測(cè)試關(guān)閉設(shè)備所有艙門，開啟設(shè)備 “真空干燥” 模式（若有），運(yùn)行 30 分鐘后，檢查設(shè)備顯示的 “內(nèi)部濕度” 是否≤30%（參考設(shè)備正常工作濕度范圍），若濕度持續(xù)偏高，需排查是否有密封點(diǎn)泄漏（如分子篩倉(cāng)、窗片安裝位）。

光學(xué)系統(tǒng)校驗(yàn)使用設(shè)備配套的 “標(biāo)準(zhǔn)樣品”（如已知成分的結(jié)石標(biāo)準(zhǔn)品）進(jìn)行分析測(cè)試，對(duì)比維修前后的譜圖：

確認(rèn)譜圖基線平穩(wěn)，無雜峰、毛刺；

關(guān)鍵特征峰的位置、強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)譜圖一致（誤差在設(shè)備允許范圍內(nèi)，通常波數(shù)誤差≤1cm?1）。

長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)試連續(xù)運(yùn)行設(shè)備 2-4 小時(shí)，每隔 30 分鐘測(cè)試一次標(biāo)準(zhǔn)樣品，觀察譜圖重復(fù)性（相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 RSD≤2%），若穩(wěn)定性達(dá)標(biāo)，說明維修合格。

四、注意事項(xiàng)與風(fēng)險(xiǎn)規(guī)避

靜電防護(hù)

全程佩戴防靜電手環(huán)，維修工具需接地（如使用防靜電工作臺(tái)），禁止在維修過程中用手觸摸探測(cè)器、分束器等精密組件的引腳或光學(xué)面。

耗材適配性

干燥分子篩、窗片、探測(cè)器均需使用原廠或認(rèn)證的兼容耗材，非原裝耗材可能導(dǎo)致光路不匹配、設(shè)備報(bào)錯(cuò)，甚至損壞其他組件。